Hanwa ESD HED-G5000 全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備 近年來(lái)，自動(dòng)駕駛技術(shù)逐漸成為T(mén)ier1汽車(chē)電子智能系統(tǒng)的超前優(yōu)良技術(shù)，解決自動(dòng)駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于提升自動(dòng)駕駛芯片的可靠性，保障汽車(chē)運(yùn)行中的安全。目前國(guó)內(nèi)尚未有關(guān)于汽車(chē)芯片可靠性的標(biāo)準(zhǔn)，而是基于國(guó)際AEC-Q100系列標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行汽車(chē)芯片可靠性測(cè)試，其中一環(huán)節(jié)就是要對(duì)汽車(chē)芯片進(jìn)行CDM和HBM的靜電相關(guān)測(cè)試。

芯片ESD測(cè)試設(shè)備,HANWA HCE-5000ESD測(cè)試機(jī)是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開(kāi)發(fā)和半導(dǎo)體制造的生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。

目前，對(duì)于半導(dǎo)體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加。對(duì)于在以往的TLP測(cè)試機(jī)無(wú)法完成的高電壓?大電流的特性測(cè)試，在TLP傳輸線(xiàn)脈沖測(cè)試儀上得以實(shí)現(xiàn)、并有助于高耐壓元件工作參數(shù)的取得及分析。

芯片ESD測(cè)試設(shè)備，HED-N5000 全自動(dòng)ESD測(cè)試系統(tǒng)，ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開(kāi)發(fā)和半導(dǎo)體制造的生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。

ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開(kāi)發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5100D 全自動(dòng)晶圓ESD測(cè)試機(jī)

emmi微光顯微鏡,ZEISS 光學(xué)微光顯微鏡產(chǎn)品特點(diǎn)：具有優(yōu)化的操作理念。 擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學(xué)系統(tǒng)。 基于“向前看”理念的升級(jí)設(shè)計(jì)。

ESD測(cè)試設(shè)備,芯片ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開(kāi)發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測(cè)試機(jī)

CDM測(cè)試儀,CDM測(cè)試設(shè)備適用于汽車(chē)芯片可靠性測(cè)試AEC標(biāo)準(zhǔn)中~靜電CDM測(cè)試設(shè)備