高功率脈沖PIV測試系統(tǒng)，由MauryMicrowave和AMCAD Engineering提供的IVCAD高級測量和建模軟件支持多種負(fù)載牽引技術(shù)，包括使用外部儀器的傳統(tǒng)負(fù)載牽引、基于VNA的負(fù)載牽引、主動負(fù)載牽引和混合負(fù)載牽。

SPAD光學(xué)傳感器測試設(shè)備,光感測器量子效率測量儀， 為了能更好的應(yīng)用在移動設(shè)備上，這些先進(jìn)光傳感器的組件感光面積越做越小。 但這些應(yīng)用卻對先進(jìn)光傳感器的光感測性能要求卻越來越高。 在感光面積微縮的過程中，也帶來量子效率精準(zhǔn)檢測的挑戰(zhàn)。 我們采用與從不同的光束空間均勻化技術(shù)，利用ASTM標(biāo)準(zhǔn)的測試方式，與各種先進(jìn)探針臺形成完整的微米級光感測器全光譜量子效率測試解決方案。