射頻探針

簡要描述：現代射頻集成電路的設計調試和測試是另一項復雜的任務。除了射頻輸入和輸出信號外，設備還需要無振蕩偏置以及數字控制信號（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需要通過為每個產品單獨配置的盡可能小的接觸墊傳送到集成電路。基于多年射頻探測技術實操經驗和深耕，為滿足國產測試需求而研制，可N個觸點射頻探測技術，快速測試您的RF IC。

產品型號：GCP67
廠商性質：生產廠家
更新時間：2024-12-27
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探針及探針座

射頻探針

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射頻探針的工作原理及使用注意全自動射頻探針臺的日常維護保養射頻探針在無線通信領域中的重要作用射頻探針臺用于評估和改進射頻電路的性能射頻探針臺可以用于測量各種設備或系統的輻射和傳導干擾水平

詳細介紹

優勢特點：

自有的激光+水刀切割探針頭部技術	優良的HFSS仿真技術	10年以上的阻抗匹配經驗
優良的DC至110 GHz同軸提參技術	業內頂配的測量儀表+建模人員團隊	滿足工作溫度-55℃ ~ +125℃
可快速交付50、100、150、200和 250µm的傾斜探頭	可選擇鈹銅或鎳合金材料（推薦鎳合金）	擁有超過100萬次的老化實驗

可兼容多家校準片或使用GCC校準片

GCP67射頻微波探針：

連接器接頭： 1.85mm母頭

針尖配置： GSG

針尖中心距：50~250um

針尖寬度： 28um

滑行距離： ≤30um

探針頭示意圖

射頻探針

產品有多個型號和不同中心間距可以選擇，詳細選型請聯系我們。

我們的射頻探測技術，用于表征射頻集成電路。間距從 50 μm 到 250μm，可滿足您的多種測試需求。使用在線設計捕獲表單，根據您的集成電路焊盤布局選擇射頻信號 (S)、邏輯 (L) 和電源 (P) 通道，構建您的探針。

注：商用探針尖射頻校準標準采用共面設計，包括不同類型的校準元件：開路、短路、負載和線路。因此，可以進行各種類型的探頭尖部校準

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