射頻探針

簡要描述：現(xiàn)代射頻集成電路的設(shè)計調(diào)試和測試是另一項復(fù)雜的任務(wù)。除了射頻輸入和輸出信號外，設(shè)備還需要無振蕩偏置以及數(shù)字控制信號（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需要通過為每個產(chǎn)品單獨配置的盡可能小的接觸墊傳送到集成電路。基于多年射頻探測技術(shù)實操經(jīng)驗和深耕，為滿足國產(chǎn)測試需求而研制，可N個觸點射頻探測技術(shù)，快速測試您的RF IC。

產(chǎn)品型號：GCP50
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2024-12-27
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探針及探針座

射頻探針

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詳細介紹

優(yōu)勢特點：

自有的激光+水刀切割探針頭部技術(shù)	優(yōu)良的HFSS仿真技術(shù)	10年以上的阻抗匹配經(jīng)驗
優(yōu)良的DC至110 GHz同軸提參技術(shù)	業(yè)內(nèi)頂配的測量儀表+建模人員團隊	滿足工作溫度-55℃ ~ +125℃
可快速交付50、100、150、200和 250µm的傾斜探頭	可選擇鈹銅或鎳合金材料（推薦鎳合金）	擁有超過100萬次的老化實驗

可兼容多家校準片或使用GCC校準片

GCP 50 射頻微波探針：

連接器接頭： 2.4mm母頭

針尖配置： GSG

針尖中心距：50~250um

針尖寬度： 28um

滑行距離： ≤30um

探針頭示意圖

射頻探針

產(chǎn)品有多個型號和不同中心間距可以選擇，詳細選型請聯(lián)系我們。

我們的射頻探測技術(shù)，用于表征射頻集成電路。間距從 50 μm 到 250μm，可滿足您的多種測試需求。使用在線設(shè)計捕獲表單，根據(jù)您的集成電路焊盤布局選擇射頻信號 (S)、邏輯 (L) 和電源 (P) 通道，構(gòu)建您的探針。

注：商用探針尖射頻校準標準采用共面設(shè)計，包括不同類型的校準元件：開路、短路、負載和線路。因此，可以進行各種類型的探頭尖部校準

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